LTE測試白卡

LTE測試卡、4G測試卡、LTE-FDD卡、LTE-TDD卡、GSM測試卡、CDMA測試卡、UIM測試卡、RUIM測試卡、WCDMA手機(jī)測試、TD-SCDMA測試卡、CDMA2000測試卡、手機(jī)測試卡(又稱白卡)，使用于通訊工業(yè)生產(chǎn)的信號(hào)測試（LTE（Long Term Evolution，長期演進(jìn))是由3GPP組織制定的UMTS技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)的長期演進(jìn)，于2004年12月3GPP多倫多TSG RAN#26會(huì)議上正式立項(xiàng)并啟動(dòng)。LTE系統(tǒng)引入了OFDM和多天線MIMO等關(guān)鍵傳輸技術(shù)，顯著增加了頻譜效率和數(shù)據(jù)傳輸速率（峰值速率能夠達(dá)到上行50Mbit/s,下行100Mbit/s），并支持多種帶寬分配：1.4MHz,3MHz,5MHz,10MHz,15MHz和20MHz等，頻譜分配更加靈活，系統(tǒng)容量和覆蓋顯著提升。LTE無線網(wǎng)絡(luò)架構(gòu)更加扁平化，減小了系統(tǒng)時(shí)延，降低了建網(wǎng)成本和維護(hù)成本。LTE系統(tǒng)支持與其他3GPP系統(tǒng)互操作。FDD-LTE已成為當(dāng)前世界上采用的國家及地區(qū)**廣泛的，終端種類**豐富的一種4G標(biāo)準(zhǔn)。）。常用于LTE手機(jī)、4G手機(jī)、FDD手機(jī)、GSM手機(jī)、UIM手機(jī)、RUIM手機(jī)、CDMA2000手機(jī)、配合綜合測試儀以及自己搭建的網(wǎng)絡(luò)對(duì)手機(jī)進(jìn)行無干擾綜合測試；手機(jī)在生產(chǎn)中需要對(duì)成品進(jìn)行相關(guān)信號(hào)測試，卻要進(jìn)行大規(guī)模屏敝，需動(dòng)用更多的人力物力及測試時(shí)間，使生產(chǎn)工藝繁雜及成本增加，測試卡可以實(shí)現(xiàn)信號(hào)至儀器到手機(jī)的**路徑，讓測試環(huán)境更加簡潔，很好的解決了這一繁鎖問題。測試卡可進(jìn)行偶合測試，誤碼率測試、具有齊備的VCC和RSTB，可用于終端和綜測儀測試等。

產(chǎn)品適用的測試儀器的品牌：

適用安捷倫、安立、羅德·施瓦茨、星河亮點(diǎn)、AGILENT8960、ROHDE & SCHWARZ、SUNLIGHT、CMU200、CMW500、CMU55、E5515C、E828**、MT8820A、NOISEKEN、FLUKE、TEKTRONIC、ADVANTES等國外、國內(nèi)的各種測試儀器以及各手機(jī)廠或者營運(yùn)商自建的網(wǎng)絡(luò)等。